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“中国集成电路知识产权高峰论坛2016”


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2016-01-22 作者:Stanford
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本次高峰论坛围绕“技术创新&知识产权运用”这一主题,针对现阶段存在的制约中国集成电路产业本身发展的固有问题,从宏观到微观、从抽象到具体展开研讨。论坛上,联盟管理团队宣读了联盟的倡议书、知识产权声明、反垄断声明、创始成员单位名单和联盟专家委员会名单,与会领导向联盟各创始成员单位授予会员证牌,并向各创始成员单位推荐负责人和专家授予了联盟的聘书。来自工业和信息化部、最高人民法院知识产权庭、国家发展与改革委员会价格监督检查与反垄断局、国家海关总署政法司、国家知识产权局、行业协会等相关领导、联盟创始成员单位推荐负责人及各有关单位负责人参加了本次高峰论坛。

关键词:仪器仪表 测试测量 技术创新    浏览量:464

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