工程师在执行杂散测量时通常需要耗费大量时间，同时还面临着测试时间与测试范围之间的折中。利用新的高性能频谱分析仪功能，Keysight PNA 可以在宽广的频率范围内执行快速杂散搜索，测试吞吐量相比现有测量方法提升 500 倍。测量结果可以与当前最快、最复杂的独立频谱或信号分析仪相提并论。
VNA 还能够在所有测试端口上同时实施频谱测量。这种独一无二、业界领先的功能使分析仪只需连接一次便可表征混频器、转换器、放大器、模块或子系统，从而缩短设计周期。例如 LO、RF 和 IF 馈通测量;谐波测量;互调产物测量;以及其他高阶混频产物测量。
夹具中和晶圆上测量也可以从 VNA 校准和去嵌入(校正接收机响应误差，消除电缆和夹具影响)中受益――测试精度将会明显改善，从而实现更小的测试容限和更苛刻的器件技术指标。
