图5。史密斯圆图显示了S2611套件的开路标准反射系数的测量值。
测量的反射系数呈弧形。当频率较低时，它从零的相位角开始，然后随着频率的增加而顺时针移动。这是由于两个因素造成的：
开路的边缘电容。
实际开路之前出现的短传输线。
确定短期标准
图6显示了母短节的物理结构。中间导线与图示右侧外导线短路。
•图6。。图片由Gregory Bonaguide和Neil Jarvis提供
与开路标准一样，在标准的实际实施之前，传输线的长度很短。。与开路一样，几乎所有短缺都是如此——我们只是在这里进行区分，以解释为什么标准的反射信号经历频率相关的相位变化。
短路位置产生电感（Le）。就像我们在前面章节中讨论的边缘电容一样，这种电感与频率相关。我们可以忽略低频和大尺寸连接器（≥7 mm）的Le。在更高的频率和小（≤3.5 mm）连接器中，我们至少需要一个三阶多项式来描述电感随频率的变化：
•方程式3。
图7显示了短标准参数的一些典型值。
典型短标准的参数。
•图7。典型短标准的参数。图片由Keysight提供
史密斯圆图上的短标准
在史密斯圆图上，测得的短路反射系数显示为一个弧形，在低频时以180度的相位角开始，随着频率的增加顺时针移动。这是由于短路的寄生电感和传输线的长度使其成为一个偏置短路。图8显示了S2611校准工具包的短路的测量反射系数
史密斯圆图显示了S2611的短路标准的测量反射系数。
图8。史密斯圆图显示了S2611试剂盒短路标准的测量反射系数。
测量校准标准
假设我们在用户校准中使用开路和短路标准。如果我们在校准后使用VNA来测量这些标准的反射系数，我们还会在史密斯圆图上看到圆弧吗？
总之，是的。大多数真正的空位和空位实际上都是偏置空位和偏置空位，所以它们的响应对应于史密斯圆图上的一个弧，而不是一个点。有关原因的更多信息，请参阅“通过示例学习——使用阻抗史密斯圆图”中的示例4和5
校准过程不会改变这一点。它只会消除测试设置中的缺陷，并确定正确的误差项，以将标准的测量响应映射到三阶多项式描述中预期的响应。事实上，即使标准在某种程度上受到轻微损坏，并且没有产生制造商规定的特性，VNA也会调整结果，使其与多项式描述一致。
因此，您应该通过测量并非来自您在校准过程中使用的试剂盒的开路或短路标准来验证您完成校准的结果。这个过程根据标准品的测量响应产生误差项——如果我们从同一试剂盒中重新测量标准品，我们可能会错误地认为校准是正确的。VNA已经进行了调整，以符合该标准的特点。
通过使用不同的标准，我们可以看到VNA对未参与校准过程的设备的测量效果。这使我们能够发现校准过程中可能发生的任何错误或不一致，如不正确的标准定义或松动的连接。
总结
