至此讨论的所有系统均会产生可激励传感器的参考信号。锁定放大器的最后一项改进是允许外部信号充当参考信号。例如，图10展示了可使用宽带白炽灯来测试表面光学属性的系统。此类系统可以测量镜面反射性或表面污染量等参数。与应用电子调制相比，使用机械斩波器调制白炽灯光源会简单得多。接近斩波器的廉价位置传感器会生成方波参考信号馈送给锁定放大器。锁相环会产生与输入参考信号频率和相位相同的正弦波，而非直接使用此信号。
图10. 使用PLL锁定外部参考信号
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至此讨论的所有系统均会产生可激励传感器的参考信号。锁定放大器的最后一项改进是允许外部信号充当参考信号。例如，图10展示了可使用宽带白炽灯来测试表面光学属性的系统。此类系统可以测量镜面反射性或表面污染量等参数。与应用电子调制相比，使用机械斩波器调制白炽灯光源会简单得多。接近斩波器的廉价位置传感器会生成方波参考信号馈送给锁定放大器。锁相环会产生与输入参考信号频率和相位相同的正弦波，而非直接使用此信号。
图10. 使用PLL锁定外部参考信号
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关键词:仪器仪表 测试测量 同步检测 低电平测量 浏览量：488
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