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漫谈T/R组件测试安全性问题的由来


时间:2018-01-16 作者:中电仪器
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仪商导读:据悉,中电科仪器仪表有限公司开展T/R组件测试技术研究和工程实践工作,至已有将近二十年的沉淀和积累。T/R组件测试系统不是仪器仪表简单的积木式堆砌,“高精尖”的测试仪器不一定就能搭建出“高精尖”的测试系统,它涉及到测试安全性、收发调理和测试效率等多方面的问题。

安全是首当其冲要面临的问题,我们探本清源看看有哪些原因引发了T/R组件测试安全性问题。

1)较大的发射功率

一般来讲,T/R组件发射功率往往比较大,有些组件的发射功率甚至会高达几十千瓦。虽然发射信号的传输是在一个屏蔽环境下,但是不可避免地会存在着泄露,保证测试人员的安全是第一个要解决的安全性问题,以人为本不能只是停留在扯着脖子喊上。另外,在大功率测试条件下,测试通道的阻抗不匹配也会导致发射信号反串至发射输出端口,这也可能烧毁组件,相当于枪手被强制掉转枪口把自己干掉了。

2)收发信号调理

由于T/R组件发射和接收参数可能会共用某些测试仪器,例如矢量网络分析仪和信号发生器等,同时由于T/R组件端口的复用性(发射输出端口同时也是接收输入端口,发射输入端口一般也是接收输出端口,有点绕是不是?),这又会导致收发测试通道的部分复用,从而使得接收测试仪器与发射测试通道有可能实现互通互联。对于这些测试仪器来说,大功率发射信号可能会给它们致命一击。如图1所示,在发射测试时,如果开关SW4SW6SW7发生切换故障,那么三个不幸者就应运而生了,分别是信号发生器、噪声源和矢量网络分析仪,大功率发射信号有可能直接与上述三个不幸者亲密接触,一番电闪雷鸣之后就是死一般的沉静。

关键词:T/R组件 测试测量 矢量网络分析仪 信号发生器    浏览量:2662

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