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大幅提升LED芯片与封装测试效率的良方


  来源: 艾普斯电源 时间:2021-08-02 编辑:清风
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因应全球 LED 市场发展,芯片与封装测试大跃进:以大量同步测试取代单一手动测试



根据 TrendForce《2021 全球 LED 照明市场报告- 照明级封装与照明产品趋势(1H21)》显示,全球 LED 照明市场发展乐观, 2025 年预估可达 443 亿美金。


LED 照明市场无疑带动关联的上、中、下游产业发展,其中,在生产制程及检测中,芯片与封装测试为不可忽视的重要环节。在各个制程的最终阶段,会透过测试电源,进行升温、调光、老化测试,确认其安全性与精准度。传统测试方法仅针对单个或数个包装,手动调整电流进行调光测试,费时又费力,如今使用可编程直流电源,可一次同时测试多个 LED 芯片,提升测试速率与产能。



实测 LED 产品老化测试


我们使用 ADG-L 可编程直流电源,进行 LED 产品老化测试。透过远程计算机,以 Ethernet 通讯方式,链接恒温恒湿测试机内串并接好的 LED 芯片模块,提供每个芯片稳定的电压及电流。



藉由 ADG-L 专属的远程操作软件,设置编程程序,输入需求的电压与电流值,使其重复循环、自动跳停,并在计算机上同步观察 LED 芯片的测试结果。



其他 LED 灯源测试应用


ADG-L 系列可针对不同的待测物进行测试,除了上述的 LED 产品老化测试,业界也经常使用此机模拟电源输出扰动,进行 LED 灯源的渐层测试与闪频实验,确认 LED 灯是否产生降低视觉功能的炫光,达到检测 LED 色温、亮度和调光效果。实际测试状况,请参考下方 ADG-L 系列介绍影片。


ADG-L 系列具优秀的电源规格特性,适用于高电压或大电流之测试模拟


ADG-L 系列是一款可編程高功率密度直流电源,相较于他厂,能在同等级输出容量中,提供较大的电流,15 kW 单机具 0~135 A、0~1000 V 的电流及电压输出,并机后最大可达 75 kW、675 A,且内建 PFC 主动功率因子校正,输出功因可高达 0.99。此外,有宽量程输出选择,以及定电压、定电流与定功率模式,提供客户多元、完善的选择。多应用于太阳能、电动车、锂电池、元器件类断路器、接触器、保险丝以及实验室、认证单位等,适合需求高电压或大电流的测试,提供客户在产品设计开发初期的各种模拟,以及产品老化之生产检测。


关键词:LED芯片 封装测试 直流电源    浏览量:9438

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