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让XDC时序与约束为您效力


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2016-01-28 作者:Stanford
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当您决定为信号使用哪种 Bank 后,仍然可以更改信号驱动强度和斜率。这些都是硬件设计团队很感兴趣的指标,因为他们要努力确保单板的信号完整性达到最优。选择结果还会影响单板设计的时序。为此,您可以使用信号完整性工具。

SI 工具需要 IBIS 模型。当您打开了Impelmented Design时,您可使用 File->Export->Export IBIS 模型选项从 Vivado 工具中提取设计的 IBIS 模型。然后,使用该文件关闭解决系统级 SI 问题和最终 PCB 布局的时序分析。

如果设计团队整体上对 SI 性能以及系统的时序感到满意,您就会得到针对设计中 I/O 的多个约束,如下所示。

set_property PACKAGE_PIN G17 [get_ports {dout}] set_property IOSTAN- DARD LVCMOS33 [get_ports

{dout}]

set_property SLEW SLOW [get_ports {dout}]

set_property DRIVE 4 [get_ ports {dout}]

对于 HP I/O Bank,您还可使用数控阻抗正确做IO端接并增加系统的 SI,无需使用外部端接方案。如果没有信号驱动 I/O,例如将 I/O 连接到外部连接器,这时您还必须考虑 I/O 的影响。这种情况下,您可使用 I/O 约束实现上拉或下拉电阻,以防止由于 FPGA 输入信号悬置而导致系统问题。

关键词:仪器仪表 测试测量 时序    浏览量:220

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