当前位置: 首页 » 行业聚焦 » 行业动态 » 正文

大立科技亮相ETOP2017光学会议探讨红外热成像新技术


时间:2017-06-01 作者:大立科技
分享到:




529日至31日在浙江大学紫金港校区举办的ETOP2017(光学与光子学教育与培训国际会议),共约有来自全球以及国内的两百多位专家代表出席。大立科技携产品亮相并进行受邀演讲。该会议是光学与光子学教育领域唯一的国际性会议,会议两年举办一次。


此次会议主题是探讨交流光学与光子学教育与培训的新思路和新方法,会议邀请了多位国际权威专家做大会主题报告,并有教育部高教评估中心的专家受邀介绍最新高教评估标准。


会议按教育方向分为为几个分会场,大立科技副总经理姜利军博士受邀演讲,主题是探讨红外热成像的新技术在教育行业上的应用。


关键词:仪器仪表 测试测量 红外热成像    浏览量:347

声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。


让制造业不缺测试测量工程师

最新发布
行业动态
行业聚焦
国际资讯
仪商专题
按分类浏览
Copyright © 2023- 861718.com All rights reserved 版权所有 ©广州德禄讯信息科技有限公司
本站转载或引用文章涉及版权问题请与我们联系。电话:020-34224268 传真: 020-34113782

粤公网安备 44010502000033号

粤ICP备16022018号-4