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向微间距迈进,高速芯片测试领先者再秀肌肉


  来源: 半导体行业观察 时间:2022-09-16 编辑:仪器仪表WXF
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由于采用了专利性技术结构,兼顾信号完整性及零部件的结构、可加工性等多个方面,所以DaVinci 微型测试插座的特点也十分明显,具体来说:


探针


通常,IC Socket的探针主要提供芯片与测试板的稳定可靠联接。探针质量主要体现在结构、材质、镀层、弹簧、套管的直径精度及装配制造工艺等方面。


DaVinci 微型测试插座信号探针采用双动头设计,顶部肩环提供预紧力,确保探针在腔体的稳定状态及测试过程中的平稳表现。另外信号探针安装有低介电常数材质环,在提高装配性的基础上,亦能确保信号探针在腔内精确对位,保证信号传输路径的阻抗特性。


弹簧探针


据介绍,DaVinci 微型测试插座中采用两种类型的弹簧探针,一种探针用于信号,另一种探针用于电源和接地。其中,传输信号应用外径较细、表面套装塑料环的信号针,实现同轴信号传输线结构;而接地及电源使用同一种探针,但应用不同的腔体表面及尺寸来实现与金属腔体零件接地及绝缘的芯片测试供电需要。


为了提高探针的使用寿命,DaVinci 微型测试插座可选配芯片浮动定位板设计,提供芯片测试下压过程的预定位,减少对探针的可能的冲击影响。同时,史密斯英特康工程团队还应用特殊的针高设计,以保护小直径信号探针,提高测试的可靠性及稳定性。


此外,DaVinci 微型测试插座的金属探针腔体结构,也由特殊工艺表面处理的金属机加工而成,特殊的材料性能助力DaVinci 微型测试插座相较于传统的塑料材质探针腔体有更好的抗弯性能及导热性能:一方面在高引脚针数应用中,保证探针腔体件有良好的强度,确保所有探针可靠、稳定的PCB板接触;另一方面,芯片测试过程中产生的大量热能通过金属探针腔体及时导出、散发,避免热量局部集中,有助于提高测试稳定性及探针的使用寿命。


凭借独特的低介电常数材质的环结构,最大化同轴结构的性能,使得DaVinci微型测试插座表现出业内同行产品难以企及的性能优势,持续保持业内领先地位。


壳体


除了探针外,DaVinci 微型测试插座壳体由史密斯英特康专有绝缘金属材料制造,用于放置弹簧探针,具有绝佳的信号完整性和强度。


通常来说,芯片系统性能的增加会影响测试过程中的引脚到引脚的抗噪音要求,这种问题在测试中也被称为“串扰”,而DaVinci 微型测试插座的全屏蔽信号路径可有效减少测试中的串扰影响,上述提到的金属探针腔体通过接地探针接地,也可以屏蔽芯片测试过程中信号通路在测试中相互干扰的影响,减少串扰,全面提高插座的抗串扰性能,进而大幅度提升测试芯片性能的准确性。


DaVinci 微型测试插座Bottom View


同时,精密加工的插座壳体还确保插座坚固的机械性能。据透露,史密斯英特康开发并应用了IM-002新型绝缘金属材料,具有更高的强度、良好的导热性及工艺性。


目前,DaVinci 微型测试插座已经成功完成了客户端评估,并表现出预期的信号完整性性能和良好的批量芯片测试可靠性,适用于BGA、LGA、QFN、DFN和其他封装的解决方案,是最小间距0.35mm的理想选择,也实现了史密斯英特康0.35mm 及以上的球/引脚间距高速芯片测试应用的全覆盖。


挑战不止,升级不息


作为史密斯英特康新一代高速测试插座,DaVinci 微型测试插座结合DaVinci 56产品的出色性能,充分利用IC高速测试的DaVinci同轴技术,做到350µm间距并提供理想的引脚到引脚隔离,能够显著提高首件测试合格率及最终的芯片测试合格率,而其产品优势也远不止上述提到的那几点。


据透露,DaVinci 微型测试插座经测试,接触寿命可达500,000次;可匹配客户现有的PCB测试系统和测试硬件,可以极大得节省成本;并可现场维修,根据需要更换单个探针或整个针阵列,无需额外培训;且探针接触路径短,导电能力强。


正是凭借 DaVinci 系列,史密斯英特康的测试插座被广泛应用于嵌入式设备、5G、人工智能、车联网、数据中心高速运算等领域,巩固了在高速测试市场的领先地位,全球众多知名芯片和国内一线互联网公司都是其高速测试领域的客户。除了各种封装测试插座产品线,史密斯英特康还开发了开发晶圆级别水平和垂直测试卡,提高芯片测试领域市场占有率。

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