对于设计特征，ATE高速驱动和捕获能力必须配合高定时的精度。同等重要的是，必须提供的ATE功能是经济的，因为半导体厂家面对巨大的成本压力。
高速ATE要求如下：
·高度灵活性：其能力包括各种不同的I/O类型。
·完全可量测性：其能力包括所需速度的整个范围和所需的引脚资源。数据率范围从几百兆赫到几千兆赫，所需引脚数高达2000引脚。
·高性能：高精度和快速吞吐量。
·多时钟域支持。
·负担得起的成本。
结语
不管现在的进展如何，全速度结构和BIST基环回测试不大可能解决与纳米制造缺陷相关定时的所有问题。随着大多数产品寿命周期变得越来越短，而检验和最佳化DFT电路达到必须的水平变得更加困难。
很多情况下，DFT基技术将与有限数的功能全速度图形共存，这可填充仅DFT技术的漏失测试范围。因此，可提供高速、高密度和高度通用的ATE将仍然是获得成功半导体制造的关键。
